この4月16～18日の間に、東京ビッグサイトにて
第14回光通信技術展 ファイバーオプティクス展
が開催されていました。
光エレクトロニクスに関連する他の展示会と併催される形でした。
今回は、4/18金曜に来場。
毎年規模が縮小傾向になるこの展示会ですが、まだまた新しい動向がありそうなことと、従来の取引先メーカーとの人的交流もあって毎年来場しております。
今回、特に目をひいたのは、
ファイバーフェルール端面の汚れを確認出来るスコープが進化していました。
ＯＴＤＲなどの計測器や通信局内のメンテにてフェルール端面をキレイに清掃しておく必要がある。とは、昔から言われていたことですがここ近年、１０Ｇ、４０Ｇ、１００Ｇというように高速伝送化していく状況下において、通信品質を少しでも保つためには、ファイバフェルール端面をも清掃を徹底すべきと言う意識の高まりが起こっている傾向にあるようです。
いずれも参考出展でしたが、従来は端面スコープの画像確認はＵＳＢなどのインターフェースケーブルを介して、専用モニタかパソコンでの表示解析をさせるものばかりでした。
それが、今回から今風の伝送方式のＷＩＦＩ無線ＬＡＮ伝送で、パソコンはもちろんですが、スマートフォンやタブレット端末にて無料のアプリをダウンロードすることにより、表示解析が可能となってきました。
ですが、まだ参考出展製品とのことですので、製品化が完了には少し待つ必要がありそうです。
これについては、後日詳しく解説したいと思います。
